Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪 使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和*工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领xian电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

Raytek® Compact MI3 红外测温探头/高温计 雷泰MI3红外温度传感器代表在连续非接触式温度监测的新一代的性能和创新，并广泛应用于OEM应用和制造工艺中。 MI3红外测温仪是一个由一个微型传感头和一个独立的通讯电子系统两部分组成的测温系统。微型传感头可安装在大多数系统中，并在性能上优于更大体积的传感器，使雷泰MI3在同级别红外温度传感器中较有优势。

ThermoView TV40工业固定式热成像系统红外 ThermoView TV40是一款高性能的工业固定式热成像系统，通过提供红外和可见光视频流，从而能够将温度数据可视化，帮助加深您对工艺过程的了解。TV40能够全面地提供集成化的温度控制、监控和数据存档解决方案。

福禄克Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪 雷泰MP150红外行扫描仪是专为使用在高要求的工业环境中使用，并可以测得运动物体的准确温度图像。这种多点测量由一个旋转的光学系统来实现的，它可以在90°视野范围内，在一条直线上收集高达1024点的红外辐射结果。

福禄克Raynger 3i Plus手持式红外测温仪-华普通用 Raytek® Raynger 3i Plus 高温手持式红外测温仪设计用于满足众多工业应用中的过程性能要求，包括原生和再生金属加工以及石化和发电厂运行的苛刻的高温环境。 关键指标 温度量程： 700 至 3000ºC (1292 至 5432ºF) 400 至 2000ºC (752 至 3632ºF) 距离系数比(D:S)：250

日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列 分光光谱仪种类 MCPD-9800：高动态范围分光 MCPD-6800：紫外/可见/近红外光分光光谱仪 MCPD-7700：高感度分光

日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的安全机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义

德国SPECTRUMA GDA 750 HR辉光放电光谱仪 GDOES光谱仪GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光谱仪，非常适合研发任务。基于模块化概念，可以设想多种选项组合，因此可以为您的应用实现最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的导电样品。GDA 750 HR也用于分析不导电样品。